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                                  X熒光光譜法測ROHS

                                  技術(shù)文章

                                  使用熒光光譜分析法(XRF)進(jìn)行RoHS驗證-X熒光光譜測ROHS

                                  隨著(zhù)歐盟RoHSzui后期限的臨近,很多公司都開(kāi)始采用無(wú)鉛化工藝,但要確保工藝的一致性,有效的檢測方法是必*,熒光光譜分析法(XRF)就是其中之一。許多晶圓制造廠(chǎng)已開(kāi)始用XRF法在薄鍍層上進(jìn)行無(wú)危害性成分測量,而且還用它探測擴散阻擋層裂口。
                                  RoHS禁令簡(jiǎn)介 :
                                  RoHS是⟪電氣、電子設備中限制使用某些有害物質(zhì)指令⟫(the Restriction ofthe use of certain hazardous substances in electrical andelectronicequipment)的英文縮寫(xiě),主要限制電子產(chǎn)品中的鉛Pb、鎘Cd、汞Hg、六價(jià)鉻Cr(VI)、多溴聯(lián)苯PBBs、多溴聯(lián)苯醚PBDEs六種有害物質(zhì)含量。產(chǎn)品中各物質(zhì)的zui大容許含量(閾值)分別為:Cd為100×10-6,Pb、Hg、Cr(VI)、PBB和PBDE為1000×10-6。該指令由歐洲議會(huì )及理事會(huì )提出,歐盟成員國將于2006年7月1日起強制實(shí)施。 

                                  我國也在制定相應的法規,⟪中國電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法(征求意見(jiàn)稿)⟫ 第 11條就明確指出:生產(chǎn)者應當采取措施逐步減少并淘汰電子信息產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、聚合溴化聯(lián)苯(PBB)、聚合溴化聯(lián)苯yi醚(PBDE)及其他有毒有害物質(zhì)的含量;對于不能*淘汰的,其有毒有害物質(zhì)含量不得超過(guò)國家標準的有關(guān)規定。

                                  熒光光譜分析法(XRF)
                                  熒光光譜分析法(XRF)就是利用原子熒光譜線(xiàn)的波長(cháng)和強度進(jìn)行物質(zhì)的定性與定量分析的方法。因為在一定實(shí)驗條件下,被測元素的濃度與熒光強度成正比,因而可據此對RoHS六種有害物質(zhì)進(jìn)行定量分析。 
                                  原子熒光光譜儀分為色散型和非色散型兩類(lèi),兩類(lèi)儀器的結構基本相似,差別在于非色散儀器不用單色器。色散型光譜儀由輻射光源、單色器、原子化器、檢測器、顯示和記錄裝置組成。輻射光源用來(lái)激發(fā)原子使其產(chǎn)生原子熒光,可使用連續光源或銳線(xiàn)光源,常用的連續光源是氙弧燈,而可用的銳線(xiàn)光源有高強度空心陰極燈、無(wú)極放電燈及可控溫度梯度原子光譜燈和激光;單色器用來(lái)選擇所需的熒光譜線(xiàn),排除其他光譜線(xiàn)的干擾;原子化器用來(lái)將被測元素轉化為原子蒸氣,分為火焰、電熱和電感耦合等類(lèi)型;檢測器用來(lái)檢測光信號并轉換為電信號,常用的檢測器是光電倍增管;顯示和記錄裝置則用來(lái)顯示和記錄測量結果,包括了電表、數字表、記錄儀等。 

                                  原子熒光光譜分析法具有設備簡(jiǎn)單、靈敏度高、光譜干擾少,工作曲線(xiàn)線(xiàn)性范圍寬,可以進(jìn)行多元素測定等優(yōu)點(diǎn),應用廣泛。RoHS一致性熒光屏檢查流程如圖1所示。 
                                  圖1 RoHS一致性熒光屏檢查流程圖 對XRF而言,可不考慮被測物的化學(xué)焊接狀況直接鑒定原子,這使XRF特別適用于檢查鎘、鉛和汞等物質(zhì)。XRF分析法能夠檢查鉻,只是不能區別有毒的六價(jià)形態(tài)和別的鉻形態(tài)。如果樣品中總的鉻含量低于對六價(jià)鉻含量的限定范圍,就表明有毒等級較低,如果不存在此狀況,就需要進(jìn)行有害性化學(xué)分析。XRF還能夠檢測有溴原子的樣品,因此多溴聯(lián)二苯(PBB)和多溴聯(lián)二苯醚(PBDE)的檢查也將遵循同樣的規則,如果PBB和PBDE中的溴等級都低于限定值范圍的話(huà),就可判定其具有一致性。照明工程師社區q;sb(XPY2^1sb3ht /D!Hez a`在半導體和電子行業(yè)有十幾家公司提供X射線(xiàn)測量設備。在這些公司中,目前為RoHS一致性測試提供XRF設備的公司包括:Hepco、 Horiba Jobin Yvon 、Innov-X Systems 、 Niton 和 Oxford Instruments。 r檢測程序、方法、設備與確證結 RoHS在工藝過(guò)程中主要的存在形式有:溫控器、傳感器和繼電器中的汞;焊料、CRT玻璃和燈泡中的鉛;開(kāi)關(guān)、彈簧、連接器、外殼和PCB中的鎘;金屬防腐蝕涂層中的六價(jià)鉻;PCB、連接器、塑料外殼中的多溴聯(lián)苯和PBB阻燃劑;PCB、連接器、塑料外殼中的多溴二苯醚和PBDE阻燃劑。 工藝中的檢測程序包括:樣品拆分、篩選測試、確證檢測、符合性評價(jià)。 樣品拆分:電子產(chǎn)品的成品和半成品由多種材料組成,首先必須進(jìn)行拆解,直至得到無(wú)法進(jìn)一步機械拆解的zui小均質(zhì)材料檢測單元。 材料分類(lèi):電子電氣產(chǎn)品及部件的材料分類(lèi)如下: 聚合物類(lèi):塑料、橡膠、泡棉等; 金屬類(lèi):金屬板材、支架等; 電子元器件類(lèi):線(xiàn)路板、電阻、電容等; 其他類(lèi):添加劑、涂料、顏料、絕緣漆、玻璃、搪瓷、膠木、墨水、瓷等。 注:對于無(wú)法拆解的非均質(zhì)組件,須使用低溫破碎、研磨等方式制成均質(zhì)檢測單元,再進(jìn)行檢測。照明工程師社區|"vN:f7K 各類(lèi)材料的測試項目見(jiàn)表1 J 表1 LM94022管腳功能 篩選測試:不同材料中有害物質(zhì)的存在風(fēng)險不同,篩選測試可以預先從中甄別出其中高風(fēng)險的材料再進(jìn)一步進(jìn)行確證測②對于通過(guò)篩選測試的材料,可不再進(jìn)行確證測試,節省時(shí)間和成本。常用的篩選測試方法包括:X熒光光譜法、斑點(diǎn)法、直讀光譜法、傅立葉紅外光譜法等。表2和表3給出了常用的篩選測試方法和確證測試方法。 表2 測試方法和設備范圍技術(shù)比較表 表3中的處理方法指的是相關(guān)標準和國家標準。 表3 確證測試儀器和處理方法符合性評價(jià)的內容分為以下5個(gè)方面:
                                  ①對產(chǎn)品拆分過(guò)程的符合性評價(jià); ②對采用適當檢測標準的符合性評價(jià); 
                                  ③對檢測單元測試結果可靠性的評價(jià);④對各檢測單元結果是否符合*的判定 ⑤對產(chǎn)品是否符合RoHS的總體評價(jià),寫(xiě)出報告證書(shū)。使用要點(diǎn) 由于需要測量均勻樣品的成分,那么光束的直徑是非常重要的。對統裝材料而言,諸如波峰焊槽中的焊料,寬光束就足夠了;而在BGA或倒裝片粘附之前,還需核查焊料凸點(diǎn)的鉛含量,以確保光點(diǎn)直徑小于凸點(diǎn)。此外,因為要確定光束進(jìn)入材料有多深,因此光束強度也是重要的。例如,為了核查引線(xiàn)上均勻性成分,就要確保光束要穿透材料本身。

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